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  1. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    [lectures presented at the NATO advanced study institute, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-20, 1978]
    Beteiligt: Zemel, Jay N. (Hrsg.)
    Erschienen: 1978
    Verlag:  Plenum Press, New York [u.a.]

    Standort:
    Humboldt-Universität zu Berlin, Universitätsbibliothek, Jacob-und-Wilhelm-Grimm-Zentrum
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Zemel, Jay N. (Hrsg.)
    Sprache: Unbestimmt
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 2800 ; UP 3100
    Schriftenreihe: NATO advanced study institutes series: Series B, Physics ; 46
    Schlagworte: Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Optische Messtechnik; Halbleiter; Konferenz; Halbleiterwerkstoff; Zuverlässigkeit; Halbleiterbauelement; Charakterisierung; Akustische Messtechnik; Rückstreuung; Röntgenographie; Werkstoffprüfung
    Umfang: XI, 782 S., Ill.
  2. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    [lectures presented at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tusculano, Italy, September 19 - 29, 1978]
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Plenum Press, New York [u.a.]

    Standort:
    Freie Universität Berlin, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Staatsbibliothek zu Berlin - Preußischer Kulturbesitz, Haus Unter den Linden
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    TU Berlin, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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    Hinweise zum Inhalt
    Quelle: Philologische Bibliothek, FU Berlin; Staatsbibliothek zu Berlin
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 2800 ; UP 3100
    Schriftenreihe: NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; 46
    Schlagworte: Semiconducteurs - Essais - Congrès; Semiconductors; Rückstreuung; Akustische Messtechnik; Konferenz; Optische Messtechnik; Charakterisierung; Halbleiterwerkstoff; Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Zuverlässigkeit; Halbleiter; Halbleiterbauelement; Werkstoffprüfung; Röntgenographie
    Umfang: XI, 782 S., Ill., graph. Darst.
  3. Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
    Autor*in: Zemel, Jay N.
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Springer US, Boston, MA

    Standort:
    TU Berlin, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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    Hinweise zum Inhalt
    Quelle: Verbundkataloge
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Ebook
    Format: Online
    ISBN: 9781475713527; 9781475713541
    Weitere Identifier:
    Schriftenreihe: NATO Advanced Study Institutes Series, Series B: Physics ; 46
    Schlagworte: Engineering; Computer engineering; Electrical Engineering; Ingenieurwissenschaften; Werkstoffprüfung; Charakterisierung; Halbleiter; Halbleiterbauelement; Röntgenographie; Konferenz; Akustische Messtechnik; Optische Messtechnik; Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Halbleiterwerkstoff; Rückstreuung; Zuverlässigkeit
    Umfang: 1 Online-Ressource (XI, 782 p)
    Bemerkung(en):

    From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non­ destructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices was held at the Villa Tuscolano in Frascati, Italy. A total of 80 attendees and lecturers participated in the program which covered many of the important topics in this field. The subject matter was divided to emphasize the following different types of problems: electrical measurements; acoustic measurements; scanning techniques; optical methods; backscatter methods; x-ray observations; accele­ rated life tests. It would be difficult to give a full discussion of such an Institute without going through the major points of each speaker. Clearly this is the proper task of the eventual readers of these Proceedings. Instead, it would be preferable to stress some general issues. What came through very clearly is that the measurements of the basic scientists in materials and device phenomena are of sub­ stantial immediate concern to the device technologies and end users
  4. Klang-Experimente
    die auditive Kultur der Naturwissenschaften 1761 - 1961
    Autor*in: Volmar, Axel
    Erschienen: 2015
    Verlag:  Campus-Verl., Frankfurt am Main [u.a.]

    Standort:
    Universitätsbibliothek J. C. Senckenberg, Zentralbibliothek (ZB)
    Signatur:
    90.615.15
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Standort:
    Universitätsbibliothek J. C. Senckenberg, Bibliothek Sprach- und Kulturwissenschaften (BSKW)
    Signatur:
    36/U 26
    Fernleihe:
    keine Fernleihe
    Titel im lokalen Katalog:
    https://hds.hebis.de/ubffm/Record/HEB364069198
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    Hinweise zum Inhalt
    Quelle: Fachkatalog AVL
    Sprache: Deutsch
    Medientyp: Dissertation
    Format: Druck
    ISBN: 359350278X; 9783593502786
    Weitere Identifier:
    9783593502786
    RVK Klassifikation: LC 87000 ; TB 2280
    DDC Klassifikation: Naturwissenschaften und Mathematik (500)
    Schlagworte: Naturwissenschaften; Akustische Messtechnik; Akustik; Hören; Elektrophysiologie; Experiment; Kultur; Klang
    Umfang: 230 S., Ill., 213 mm x 140 mm
    Bemerkung(en):

    Zugl.: Siegen, Univ., Diss., 2012
  5. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
    [lectures presented at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tusculano, Italy, September 19 - 29, 1978]
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Plenum Press, New York [u.a.]

    Standort:
    Universitätsbibliothek Erlangen-Nürnberg, Technisch-naturwissenschaftliche Zweigbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Technische Universität München, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universität der Bundeswehr München, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe

    Standort:
    Universitätsbibliothek Regensburg
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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    Quelle: Verbundkataloge
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0306402939
    RVK Klassifikation: UP 2800 ; UP 3100
    Schriftenreihe: NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; 46
    Schlagworte: Semiconducteurs - Essais - Congrès; Semiconductors; Rückstreuung; Akustische Messtechnik; Konferenz; Optische Messtechnik; Charakterisierung; Halbleiterwerkstoff; Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Zuverlässigkeit; Halbleiter; Halbleiterbauelement; Werkstoffprüfung; Röntgenographie
    Umfang: XI, 782 S., Ill., graph. Darst.
  6. Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
    Autor*in: Zemel, Jay N.
    Erschienen: 1979
    Verlag:  Springer US, Boston, MA

    Standort:
    Technische Universität München, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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    Hinweise zum Inhalt
    Quelle: Verbundkataloge
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Ebook
    Format: Online
    ISBN: 9781475713527; 9781475713541
    Weitere Identifier:
    Schriftenreihe: NATO Advanced Study Institutes Series, Series B: Physics ; 46
    Schlagworte: Engineering; Computer engineering; Electrical Engineering; Ingenieurwissenschaften; Werkstoffprüfung; Charakterisierung; Halbleiter; Halbleiterbauelement; Röntgenographie; Konferenz; Akustische Messtechnik; Optische Messtechnik; Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Halbleiterwerkstoff; Rückstreuung; Zuverlässigkeit
    Umfang: 1 Online-Ressource (XI, 782 p)
    Bemerkung(en):

    From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non­ destructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices was held at the Villa Tuscolano in Frascati, Italy. A total of 80 attendees and lecturers participated in the program which covered many of the important topics in this field. The subject matter was divided to emphasize the following different types of problems: electrical measurements; acoustic measurements; scanning techniques; optical methods; backscatter methods; x-ray observations; accele­ rated life tests. It would be difficult to give a full discussion of such an Institute without going through the major points of each speaker. Clearly this is the proper task of the eventual readers of these Proceedings. Instead, it would be preferable to stress some general issues. What came through very clearly is that the measurements of the basic scientists in materials and device phenomena are of sub­ stantial immediate concern to the device technologies and end users